Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) umożliwia obserwację struktury powierzchni materiałów przy powiększeniu 5-300 000x. Służy do obserwacji i charakteryzacji materiałów organicznych i nieorganicznych w skali od nanometrycznej do mikrometrycznej. Niska próżnia umożliwia obserwację próbek nieprzewodzących oraz próbek zawierających wodę bez potrzeby przygotowania preparatu.